■  電壓范圍：0-5V；

■  量程范圍：0-50A/100A/200A/300A/400A/500A/600A/800A/1000A；
■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環壽命、充電容量、放電容量、 DCIR（直流等效內阻）等參數測試；

■  充轉放無縫切換，無過充過放；

■  采樣&通訊傳輸間隔高達1ms，完全真實還原測試過程數據；

■  功能豐富的上位軟件，支持生產分選功能；
■  每通道對應狀態指示燈，分選更方便；

■  強大的數據存儲與分析功能；

■  百兆以太網通訊；

容量測量 

     N5800可測量超級電容容量參數，含充電容量和放電容量。測試方法為： 對被測超級電容以恒定電流進行充（放）電，在充（放）電過程中記錄時 間和電壓參數，通過計算充（放）電過程中電壓對時間的斜率計算容量。 用戶可根據IEC等各種測量標準自行選擇電壓、時間參數進行計算。

充電容量計算公式：

放電容量計算公式： 

其中：Ur表示額定電壓 U1表示充電容量計算起始電壓 

          U2表示充電容量計算截止電壓 U3表示放電容量計算起始電壓

          U4表示放電容量計算截止電壓 

          I1表示充電電流

          I2表示放電電流 

等效串聯內阻(DCIR)測試 

      N5800具有豐富的直流內阻測量功能，支持業內多種主流DCIR測試方法： 多脈沖法、單脈沖法、充轉放法、六步測試法、IEC測試法，可滿足絕大部 分用戶測試需求。NGI核心測試技術確保在各種測試方法中獲取高精度內阻 測量結果。

IEC法直流等效內阻計算公式：

壽命測試 

      N5800可通過重復充放電循環測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線。通過分析參數衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環節的改善。 

      采用精密的設計電路，保證充放電過程快速，精確。充電過程中恒流充點轉恒壓充電無過充，能最好的保護被測產品，防止由于過程導致測試結果不準或樣品損毀等情況。恒壓充電轉恒流無縫切換，結合1ms高速采樣，完全真實還原出產品測試過程，滿足用戶測試QC/T741、六步法、充轉放法對直流等效內阻（DCIR）的測試要求。 

(4) 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。